- 首页
- IC测试座
- IC老化/烧录座
IC老化/烧录座
- 开模弹片结构
- 开模探针结构
- 定制探针老化座
- 晶振系列老化座
- 小尺寸IC系列
- SOP在线烧录夹
- 定制端子板
- IC测试治具
- IC测试设备
IC测试设备
- oFlash单颗晶圆测试/分选机
- oFlash整盘芯片测试/分选机
- o整盘芯片ATE测试老化炉(全球独创)

- Flash单颗晶圆测试/分选机
- 查看更多

- Flash整盘芯片测试/分选机
- 查看更多
- 车规老化座
- 资讯
- 客户服务
暂时没有数据
暂时没有数据
暂时没有数据
暂时没有数据
- 采购
TO247(3)-2.54 晶体管下压老化测试座
产品简介:由凯智通生产的晶体管TO系列TO247(3/4)-2.54 Open-top下压老化测试座,有三大优势:1、接触采用锁螺丝结构,不需要焊接,便于更换维护,老化板可以重复利用;2、晶体管老化测试座采用open-top结构,可以配合自动化,减少人工,降低成本,提高效率;3、老化座外壳采用开模结构,成本低,交期快;