- 首页
- IC测试座
- IC老化/烧录座
IC老化/烧录座
- 开模弹片结构
- 开模探针结构
- 定制探针老化座
- 晶振系列老化座
- 小尺寸IC系列
- SOP在线烧录夹
- 定制端子板
- IC测试治具
- IC测试设备
IC测试设备
- oFlash单颗晶圆测试/分选机
- oFlash整盘芯片测试/分选机
- o整盘芯片ATE测试老化炉（全球独创）
- Flash单颗晶圆测试/分选机
- 查看更多
- Flash整盘芯片测试/分选机
- 查看更多
- 车规老化座
- 资讯
- 客户服务
暂时没有数据
暂时没有数据
暂时没有数据
暂时没有数据
- 采购
-
QFN32(4*4)-0.4下压老化座（009系列）
-
QFN24-0.4翻盖烧录座系列（标准品）
-
QFN16-0.4弹片下压老化座（标准款）
-
凯智通QFN24-0.4下压弹片老化座（标准款）
-
QFN40-0.4-下压弹片老化座（标准款）
了解详情
在线咨询