常规探针,通常寿命在10万次左右。如果测试环境比较差,各种杂质进入探针内管,就会造成弹簧损坏,缩短探针使用寿命,需要更换。还有一种是定期更换,当使用到一定时间后,探针就必须要更换
那么还有其他哪些原因会影响探针的寿命呢?
1.在我们测试过程中,某些IC芯片有可能内部短路,在测试时,造成电流过大,引起探针、针板等配件烧坏,甚至烧坏客户的PCBA板,所以在上电测试之前一定要确保IC芯片是没有内部短路的;
2. 旋紧座头测试,所有座头在出厂之前,都已经根据有锡球或者无锡球测试,做过压力调整,并有防呆定位销,旋至无法转动即可,请不要随意拆卸座头,以免造成压力过大或者过小,损坏探针,引起测试不良;
3.因为探针结构不同,治具分为有锡球测试、无锡球测试两种,测试时,请不要将两种芯片混合测试,以免造成探针损坏;
治具如果长时间不使用,请取出测试IC,将测试座头旋紧,用防静电袋包裹好,存放于干燥、阴凉处,以免探针氧化、PCBA板受潮
工厂地址:深圳市宝安区福永镇稔田工业南路14号
定制热线:18188646150