芯片测试和芯片验证是两个完全不同的概念。芯片验证是芯片在设计过程中的通过EDA工具仿真所作的检验，而测试是指在芯片生产出来之后利用ATE对芯片功能进行的一种物理检查。二者之间也有联系，很多芯片测试的内容其实都是在芯片验证过程中得到的。比如说芯片测试的向量(pattern)就是在验证过程中产生的。

什么是芯片测试？简单来说，芯片测试就是使用专用的自动测试设备（ATE）检查制造出来的芯片其性能和功能是否满足一定的要求。所以，芯片测试会包含很多方面的内容，可以分为功能测试，混合信号参数测试，直流参数测试等等，不同封装类型的芯片对测试也会有不同的要求，例如说纯数字芯片就只用到直流参数测试和功能测试，而混合信号芯片上述三者的内容都会涵盖到。随着芯片技术的进步，一块芯片上集成的功能越来越复杂，往往一块芯片可以实现以往一个系统所需的全部功能，这就是所谓的SoC。但是，现今任然存在着很多功能单一的芯片，比如说存储器芯片，它的制作工艺比较单一，往往单独进行生产，这样可以降低成本。

说到芯片测试，不得不说一下ATE—Auto Test Equipment的简称。现在大部分芯片的量产测试都是在ATE系统上来完成的。简单来说，ATE的作用就是给芯片的输入管脚施加所需的激励信号，同时监测芯片的输出管脚，看其输出信号是否达到预期的值。同时，ATE还能进行类似电流源/电压，电压/电流表等的功能，用于进行芯片直流参数的测试。，ATE也有很多种类来应对芯片的不同种类，比如说有存储器（Memory）测试仪，模拟测试仪数字测试仪，，混合信号(Mixed Signal)测试仪，射频(RF)测试仪等等。种类多样化的ATE测试系统最近似乎朝着多功能一体化的方向发展，一台ATE集成了越来越多的测试能力。但是这种趋势的优势并不明显，毕竟一体化的机型对于一些专门的芯片来说浪费太大。笔者认为，一体化和专用机型之间应该会达到一个平衡，对于简单和生命周期长的芯片，用专用测试仪来测试；而对功能比较复杂，集成功能较多而且生命周期只有1年或者更短的芯片，一般用功能比较齐全的测试仪来测试。

芯片测试一般会用到（芯片测试座又称芯片测试插座）这两个工具主要起到一个功能性检查。随着封装工艺的进步，芯片越来越小，间距也越来越小，叠成芯片越来越普及， 对测试插座的要求也越来越高。深圳凯智通微电子技术有限公司拥有二十多年设计芯片测试座的经验。公司专业研发各类应用于芯片功能验证的IC test Socket/fixture、功能测试治具、老化座、烧录座、FPC/BTB测试模组，提供专业的芯片测试老化解决方案及芯片的返修一站式服务。

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