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QFN44-0.5翻盖老化座——QFN老化测试座
2022-05-21 10:19凯智通569

凯智通微电子生产QFN44-0.5翻盖老化座——QFN老化测试座_qfn适配器烧写座_QFN老化测试座,22年行业经验,获得多项国内外专利,研发生产各类芯片封装测试座老化座/烧录座/芯片封装测试座/治具/测试架测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等,凯智通官网:

www.icsocket.net

产品用途:编程座,测试座

适用封装:QFN44 引脚间距-0.5

特点:使用寿命长

          测试方便快捷

          测试压力小

          弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好