动态存储器是由多个IC组成的微型集成电路，IC在长时间运作下很容易影响IC的寿命，导致系统故障，目前的IC的体积越来越小，也更容易受到环境因素的损害，尤其是在高温运行中，或者是灰尘的侵害也有可能导致运行不稳定， 一个晶圆中可能有品质好的 IC ，也肯定有不好的 。这样也会导致系统运作不稳定

在CPU的运行中会产生高温，高温工作对内存条芯片也是一种极大考验，长时间高温也是芯片不稳定的因素，

内存条一般需要经过两个级别的测试，以确保最大的可靠性：

1. 先进的IC级别的测试，筛选具有最佳可靠性和质量特性的 IC，适用于需要大幅度的高低温测试可靠性测试。

2. 增强的整内存条级测试：老化测试 (TDBI) 和自动测试设备 (ATE) 保证模块达到甚至超过合格参数。

由凯智通生产的ddr内存条测试治具:

1、采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍，保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命；

2适用于：三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类品牌ddr4内存颗粒 产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；

2、产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，

3、把频率衰减降到最低，减少误测；

4、有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；

5、采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；