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资讯
凯智通新一代BGA132/152翻盖探针测试座
2022-03-01 17:33凯智通998

产品经过全新设计,相比上一代产品更有稳定性,操作更方便,测试效率更高。  

   1.机械测试寿命10万次,相比同类产品具有更高的使用寿命,保修时间一年半。

   2.支持有球/无球同测,使用温度-40℃~155℃。

   3.限位框及压块改良,保证芯片的取放和接触稳定性,减少误测。

   4.探针采用铍铜材质,阻抗小,探针的头型能轻易刺破锡球氧化层,而不会损坏锡球,接触更稳定。

   5.手扣加长,手感更好,便于扣合。

   6.上盖开口角度加大,105℃,操作更便捷。

   7.改良探针露针量,芯片摆放更平稳,减少芯片晃动影响测试良率。

   8.芯片取放位提高,相比上一代产品芯片取放更容易。