786内存条一般需要经过两个级别的测试，以确保最大的可靠性：
1.先进的IC级别的测试，筛选具有最佳可靠性和质量特性的IC，适用于需要大幅度的高低温测试可靠性测试。
2.增强的整内存条级测试：老化测试(TDBI)和自动测试设备(ATE)，保证模块达到甚至超过合格参数。
由凯智通生产的DDR内存条测试治具:
1、采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍，保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命；
2适用于：三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类品牌ddr4内存颗粒 产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；
3、产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，
4、把频率衰减降到最低，减少误测；
5、有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个IC平衡下压；
6、采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；
